作者: 单位:中国科学院上海技术物理研究所 出版:《红外》2005年第11期 页数:1页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFHWAI2005110120 DOC编号:DOCHWAI2005110129 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 本发明提供一种通过滤色通道进行缺陷检测的方法和仪器。该检测仪器包括一个电子扫描器或类似的装有一个多线性成像器的装置、一台计算机和软件。本发明的优点是能够提高红外收集速度和/或增加多线性成像装置上所记录的图像的清晰度。这些改进是通过用

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