作者:朱目成,周肇飞,贺春光 单位:中国光学学会;中国科学院上海光学精密机械研究所 出版:《中国激光》2005年第06期 页数:4页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFJJZZ2005060260 DOC编号:DOCJJZZ2005060269 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
《精细表面下细小缺陷的磁光/涡流成像研究》PDF+DOC2005年第05期 程玉华,李平飞 《无损检测中的数据融合技术》PDF+DOC2000年第08期 刘征,花崎纟一,李令琦,庞彦斌,魏祥毓 《涡流探伤传感器设计及性能比较》PDF+DOC1986年第04期 黄兴远 《磁光成像使亚表面缺陷探测可视化的研究》PDF+DOC2004年第10期 贺春光,周肇飞,朱目成 《矩形脉冲涡流传感器的缺陷定量检测仿真研究》PDF+DOC2012年第06期 康志斌,朱荣新,杨宾峰,荆毅飞,张辉 《基于空间分布熵的电磁脉冲涡流无损检测方法》PDF+DOC2015年第04期 张荣华,刘珊,张牧,刘建旭,王琦,王化祥 《铝蜂窝内腐蚀缺陷的脉冲涡流检测传感器参数优化》PDF+DOC2016年第12期 杨浩,付跃文,曹爱松 《飞机铆接结构缺陷的远场涡流检测技术研究》PDF+DOC2017年第10期 杨宾峰,胥俊敏,王晓锋,曹海霞 《硒板膜厚的无损检测》PDF+DOC1982年第03期 吴礼平 《SS3电力机车牵引电机主极裂纹检测仪研制》PDF+DOC2002年第01期 杨树军,张馨,宋京伟
  • 磁光涡流成像检测装置可实现精细表面下细小缺陷探测。在该装置中,通过物体表面上方的交流激励线圈实现传统的涡流感应,涡流所感应的磁场由法拉第效应来检测。为了实现表面下缺陷的检测目标,激光穿过安放在激励线圈中的特殊的磁光晶体,激光偏振方向在晶体中的旋转大小取决于检测区域磁场的大小,缺陷将使检测区域磁场分量发生变化并使偏振光的旋转角发生相应变化,通过一光学装置转化成“明”或“暗”图像,该光学装置由传统的显微镜、照明系统、偏振器和CCD图像传感器组成。给出了初步的实验探测结果。

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