作者:刘万春,陈小春,朱玉文,刘建君 单位:中国电子科技集团第四十五研究所 出版:《电子工业专用设备》2005年第07期 页数:4页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFDGZS2005070100 DOC编号:DOCDGZS2005070109 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 提出一种利用多CIS实现的检测PCB基板缺陷的新方法。采用多条CIS并行工作,并利用EZ-USBFX2作为USB接口控制器,高速地将CIS采集的图像数据向主机传送,应用程序再将得到的PCB图像数据进行处理,从而检测出PCB基板的缺陷。

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