作者:黎海文,吴一辉,李也凡,张平,王淑荣,贾宏光 单位:中国电子科技集团公司第48研究所 出版:《微细加工技术》2004年第03期 页数:5页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFWXJS2004030140 DOC编号:DOCWXJS2004030149 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
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  • 微构件表面的摩擦状况和磨损机理与宏观构件有较大的区别,需一种能够测量微米尺度样品摩擦特性的专用仪器。给出了一种新型硅微力传感器的设计原理、结构、制作工艺及其弱信号采集方法。静态性能测试结果表明,传感器最大输出电压2000μV,重复性约为1 3%,灵敏度约为65V/N,分辨率为46μN,总精度为2 3%,基本上满足了微摩擦测试的需要。实验及计算表明,通过优化微力传感器的结构,改进芯片的封装,可以大大减少其体积,并提高其各项性能指标。

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