作者:孟祥提,康爱国,黄强 单位:中国原子能科学研究院 出版:《原子能科学技术》2004年第S1期 页数:5页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFYZJS2004S10540 DOC编号:DOCYZJS2004S10549 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
《CMOS传感器辐射损伤对视觉位姿测量系统性能的影响机制》PDF+DOC2017年第S1期 冯婕,李豫东,文林,郭旗 《CMOS图像传感器辐射损伤研究》PDF+DOC2017年第03期 邹旸,黄景昊 《低剂量γ辐射对视频品质的影响及其改善方法》PDF+DOC2016年第04期 黄景昊,邹旸,邹树梁,徐守龙 《CMOS图像传感器抗电离辐射加固技术研究》PDF+DOC2020年第03期 吕玉冰,吴琼瑶,刘昌举,李明,周亚军,刘戈扬 《CMOS图像传感器辐射损伤导致星敏感器性能退化机理》PDF+DOC2020年第05期 冯婕,李豫东,文林,郭旗 《彩色数字照相机的设计》PDF+DOC2000年第11期 贾志科,崔慧娟,唐昆 《基于彩色CMOS图像传感器的彩电光色测量系统研究》PDF+DOC2003年第05期 姚军,冯南,孙德印 《基于CMOS图像传感器的微型无人机遥感系统设计》PDF+DOC2008年第08期 赵鹏,沈庭芝,单宝堂 《高帧频DVI接口彩色CMOS数字相机系统设计》PDF+DOC2008年第04期 孙宏海,王大伟,纪华,王延杰 《一种用于CMOS图像传感器的彩色插值算法》PDF+DOC2006年第05期 袁红星,闵子建,李锦萍
  • 研究了数字型彩色CMOS图像传感器的γ射线辐照效应。采用不同γ射线注量进行积累辐照和单次辐照。积累辐照后捕获的图像在1.2kGy时变得非常差,而单次辐照后图像在1.8kGy时才变得非常差。积累辐照由于类似加电模式而比单次辐照时性能退化严重。

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