作者:邹旸,黄景昊 单位:湖南理工学院 出版:《湖南理工学院学报(自然科学版)》2017年第03期 页数:6页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFYYSF2017030080 DOC编号:DOCYYSF2017030089 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
《CMOS图像传感器的γ射线电离辐照实验研究》PDF+DOC2019年第11期 刘力,王湘江 《CMOS图像传感器辐射损伤导致星敏感器性能退化机理》PDF+DOC2020年第05期 冯婕,李豫东,文林,郭旗 《低噪声四管像素CMOS图像传感器设计与实现》PDF+DOC2009年第02期 徐江涛,李斌桥,姚素英,任张强 《汽车二维运动参数测试系统开发研究》PDF+DOC2016年第02期 钱枫元,何耀华,宋朋举 《γ射线电离辐射对商用CMOS APS性能参数的影响》PDF+DOC2017年第03期 徐守龙,邹树梁,黄有骏 《用于低限度环境的CMOS图像传感器》PDF+DOC2000年第09期 Dan Croft,顾聚兴 《基于CMOS图像传感器的多斜率积分模式》PDF+DOC2012年第06期 杨东来,胡晓东,李俊娜 《CMOS图像传感器的辐射实验》PDF+DOC2011年第07期 周彦平,王晓明,常国龙,汪黎黎 《CMOS图像传感器优势和最新产品》PDF+DOC2007年第11期 柳笛,黎福海,荣宏,韩兵兵,王鑫 《红外图像传感器技术及其在公共安全中的应用》PDF+DOC2014年第06期 雷玉堂
  • 考虑γ射线辐射场对视频监控系统中CMOS图像传感器的辐照失效损伤,通过机理分析与辐照实验,研究图像传感器的辐射损伤效应以及对其性能参数的影响.设计辐照实验,选用同种工艺不同厂商生产的几类CMOS图像传感器,研究γ射线对CMOS图像传感器的损伤效应.实验结果表明,γ射线总剂量效应导致暗电流增大,从而使像素灰度值增大;γ射线瞬态电离效应在CMOS图像传感器像素阵列中形成雪花状的随机正向脉冲颗粒噪声,噪点的数量与剂量率相关;彩色图像受到入射γ光子的干扰相较于暗图像较弱;并且当累积剂量低于88.4Gy,剂量率低于58.3Gy/h时,不会产生坏点;光照充足时γ射线电离辐射对传感器分辨率、色度及暗电流的影响并不明显。

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