作者:王天荣,郭建英,王丽杰 单位:工业和信息化部电子第五研究所 出版:《电子产品可靠性与环境试验》2003年第04期 页数:4页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFDZKH2003040090 DOC编号:DOCDZKH2003040099 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
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  • 对已批量生产的某种石英谐振称重传感器进行了可靠性增长的尝试。首先对这种传感器实施了环境试验与寿命试验,并用经典法、信赖法和贝叶斯法估计了环境可靠度及MTBF的单侧置信下限。进而对其进行失效分析,并将系统性B类失效加以改进,采用一般性的可靠性增长方式,经可靠性验证试验对增长后的MTBF做出评价,当置信水平为0.9时,其MTBF的单侧置信下限达到了299158次;满足了MTBFL 10万次的要求。并用AMSAA-BISE模型进行了增长趋势检验和拟合优度检验。

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