作者:裴志军,国澄明,姚素英,赵毅强 单位:信息产业部南京电子器件研究所 出版:《光电子技术》2003年第04期 页数:5页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFGDJS2003040060 DOC编号:DOCGDJS2003040069 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 在深亚微米 CMOS技术 ,传统 CMOS图像传感器像素结构如 PD、PG等受到极大挑战 ,为了获得良好摄像质量 ,需要一些 CMOS生产工艺的改变和像素结构的革新

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