《一种功率芯片结温检测电路的设计》PDF+DOC
作者:唐万军,吕果
单位:四川固体电路研究所
出版:《微电子学》2013年第02期
页数:4页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFMINI2013020200
DOC编号:DOCMINI2013020209
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利用半导体PN结压降的固有温度特性,设计了一种可实现功率芯片结温检测控制的电路。在线路参数理论推导的基础上,给出了各元件的选取方法,以及检测元件与被测元件间的工艺实现方案。该电路可用于混合集成电路中功率芯片的结温检测,可产生过温保护电路所需要的触发信号,具有成本低、参数调整方便、检测点数扩展简单等特点。
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