作者:陈得民 单位:上海市计量测试技术研究所;上海市计量测试学会;上海市计量协会 出版:《上海计量测试》2012年第03期 页数:3页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFSJLC2012030140 DOC编号:DOCSJLC2012030149 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
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  • 从材料力学、量子力学和电子力学方面深入探讨了造成应变传感器不稳定性的本质原因,并总结了改善应变片不稳定性常用的方法。

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