作者：杨春振,白立新 单位：中国电子科技集团公司第四十九研究所 出版：《传感器与微系统》2012年第07期 页数：3页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFCGQJ2012070390 DOC编号：DOCCGQJ2012070399 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑

    • 实验将新型光栅传感器应用于微位移测量之中。通过比较线(角)位移与莫尔条纹移动个数之间的关系，实验发现，在微位移测量中光栅传感器具有极好的线性度(R2≥0.999)和精确度(误差≤2.0%)。实验验证了光栅传感器在微位移测量中可行性和可靠性。

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