作者：易春兰,刘兴法 单位：中国科学院光电技术研究所;中国光学学会 出版：《光电工程》2012年第10期 页数：6页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFGDGC2012100090 DOC编号：DOCGDGC2012100099 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑

    • 光电跟踪测量系统的测量精度与成像质量受成像系统动态分辨率的影响。成像系统动态分辨率受光电跟踪测量系统跟踪精度的影响。分析与试验表明，光电跟踪测量系统的动态成像分辨率主要取决于静态分辨率和跟踪精度；工作过程中的光电跟踪测量系统的动态成像分辨率比光电跟踪测量系统的静态成像分辨率低；与传感器的积分时间相比，高频目标与低频目标对动态成像分辨率的影响模型不同；在传感器积分时间、目标的运动状态及对动态分辨率要求确定的条件下，可对静态成像分辨与控制系统进行优化设计。

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