作者:李金龙,赵立新,胡松,周绍林 单位:中国电子科技集团公司第十三研究所 出版:《微纳电子技术》2010年第08期 页数:5页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFBDTQ2010080060 DOC编号:DOCBDTQ2010080069 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
《光刻机掩膜台微动台调平控制系统设计》PDF+DOC2015年第11期 何良辰,宋跃,刘洋,刘杨 《双工件台回转交换的同步控制系统设计》PDF+DOC2016年第09期 刘洋,陈兴林,何良辰,宋跃,张常江 《光刻机工件台自转电机控制系统设计》PDF+DOC2016年第09期 宋跃,张常江,强盛,刘洋,何良辰 《磁盘预光刻自动调焦控制系统的设计》PDF+DOC1998年第03期 罗敢,张彪 《光刻机工件台位移测量系统的设计与实现》PDF+DOC2005年第03期 雷兴华,谭永红,李若愚,谢扬球 《投影光刻机调焦调平传感技术的研究进展》PDF+DOC2004年第07期 曾爱军,王向朝,徐德衍 《基于PLC的机械手自动上下料控制系统设计》PDF+DOC2012年第15期 王学良,张秋菊 《基于CAN总线的机电式四点自动调平系统设计与实现》PDF+DOC2010年第02期 李晓松,蔡艳芳
  • 随着光刻机分辨力的提高,其焦深日益缩小。针对如何充分利用有限的焦深完成Si片的高效曝光,对步进扫描光刻机和双工件台光刻机的调平调焦原理进行了介绍,主要包括基于双光栅的检焦测量原理及检焦扫描路径规划,把Si片表面高度信息转化为离焦量和倾斜量等调平数据的算法,以及曝光位置实现调平调焦的伺服控制系统等,并从理论上对两系统的优缺点进行了对比。最后利用一组调平实验结果说明了双工件台系统调平调焦技术的优越性,指明了调平调焦技术的发展方向。

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