《X波段T/R组件可靠性增长方法研究》PDF+DOC
作者:王光池,戴跃飞,陆培永,郑林华
单位:工业和信息化部电子第五研究所
出版:《电子产品可靠性与环境试验》2010年第06期
页数:4页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFDZKH2010060050
DOC编号:DOCDZKH2010060059
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介绍了一种通过可靠性强化试验(RET)来实现X波段T/R组件可靠性增长的方法。该方法主要包括3个过程,首先通过可靠性强化试验来暴露TR组件的潜在缺陷和薄弱环节;然后根据发现的问题分析故障原因,在此基础上改进设计和工艺;最后再对改进后的T/R组件进行RET,通过对比改进前后的试验结果来验证改进措施的有效性,从而实现了组件的可靠性增长。
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