作者:袁纵横,王明,张静 单位:山西省物理学会 出版:《量子光学学报》2009年第03期 页数:4页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFLZGX2009030140 DOC编号:DOCLZGX2009030149 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 选择MgF2和ZnSe两种材料设计制作了一维缺陷光子晶体,从理论和实验上对带有缺陷的一维光子晶体的传光特性进行了研究。在实验中,一般用光谱仪来测量通过光子晶体的透射光谱,由于光谱仪价格较贵,这种方法不利于制作实用的光子晶体传感器。我们用CCD和光栅代替光谱仪,利用白光光源代替激光器,建立自动测量实验系统进行了实验研究。实验中利用压电陶瓷来改变缺陷层厚度,模拟缺陷层的变化,通过CCD测量衍射光位置来测量透过的光频。实验结果表明,缺陷层厚度的变化和透射光频率之间呈线性关系,通过测量透射光频的变化,可以测量引起缺陷层变化的物理量,这与理论分析一致,说明本实验方法可行。本实验方法研制实用的光子晶体传感器具有一定意义。

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