作者：王文辕,尹汝海,邸志刚,朱开宇,刘佳宇,安永丽 单位：中国电子科技集团公司第二十三研究所 出版：《光纤与电缆及其应用技术》2007年第05期 页数：3页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFGYYD2007050030 DOC编号：DOCGYYD2007050039 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑

    • 利用多光束干涉原理和几何光学方法，分析了非本征F-P干涉仪(EFPI)腔内损耗对干涉仪的影响，详细推导了EFPI腔长与反射光干涉条纹可见度之间的关系，确定了在可测条纹可见度的要求下EFPI腔长的范围。

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