作者：房永强,杨军红,郑晓斐,张浩 单位：成都市计量监督检定测试院 出版：《计量与测试技术》2016年第10期 页数：3页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFJLYS2016100250 DOC编号：DOCJLYS2016100259 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑

    • 文章探讨了使用电子引伸计标定器对光栅测微传感器进行期间核查，期间核查结果与计量部门校准结果基本一致。此方法操作简单，可靠性高，为实验室核查提供了一种便捷可靠的期间核查方法。

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