作者:余拱信 单位:中国机械工程学会;上海材料研究所 出版:《无损检测》1984年第05期 页数:4页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFWSJC1984050070 DOC编号:DOCWSJC1984050079 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
《压力传感器膜片的全息检测》PDF+DOC1986年第03期 余拱信 《用全息照相测量压力传感器膜片的变形》PDF+DOC1974年第01期 清华大学工程力学系激光技术组 《L-C组合式传感器的设计》PDF+DOC1999年第03期 曲国福 《压力传感器和优化设计》PDF+DOC1995年第01期 萧敬勋,杨庆新 《精度为1×10~(-3)的陶瓷膜片压力传感器》PDF+DOC1991年第04期 H.Varcca,N.Derkenne,孙敏 《平膜片小量程压力传感器非线性与输出灵敏度关系探讨》PDF+DOC1993年第Z1期 罗吉斌,伍德常 《国外展望》PDF+DOC1985年第01期 《膜片有效面积测定装置》PDF+DOC1980年第03期 郭万泉,郑雪山 《波纹膜片性能分析》PDF+DOC2010年第04期 郭长旭,庞士信,张治国 《压力传感器封装中波纹膜片的结构优化》PDF+DOC2007年第07期 付兴铭,谭六喜,姚媛,刘胜
  • 本文介绍双曝光全息干涉法对3J53膜片的材料质量、机械性能和装配工艺的检测。结果表明试验值与理论位基本一致,膜片的位移变化呈线性关系。

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