作者:郭万泉,郑雪山 单位:沈阳仪表科学研究院有限公司 出版:《仪表技术与传感器》1980年第03期 页数:5页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFYBJS1980030050 DOC编号:DOCYBJS1980030059 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 本文叙述了膜片有效面积测定装置的原理,结构特点,技术参数及应用范围。该装置结构紧凑,操作方便,无摩擦阻力影响,并能自动描绘膜片特性曲线。

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