作者:周进节,郑阳,张宗健,谭继东 单位:中国科学院声学研究所东海研究站;同济大学声学研究所;上海市声学学会;上海船舶电子设备研究所 出版:《声学技术》2017年第04期 页数:5页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFSXJS2017040070 DOC编号:DOCSXJS2017040079 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
《缺陷散射对相控阵超声全聚焦成像的影响研究》PDF+DOC2017年第02期 周进节,郑阳,张宗健,谭继东 《提高双参量光纤传感器精度的一种方法》PDF+DOC1998年第03期 郑小平,廖延彪 《先进的超声手动扫描成象检测技术》PDF+DOC1997年第06期 刘松平,陈积懋,郭恩明 《超声传感器短距离探测系统》PDF+DOC1995年第02期 刘文展 《超声互相关流量计》PDF+DOC1992年第04期 洪玮,姜天仕,刘连博,吴全富 《国外医学生物医学工程分册1990年第13卷主题索引》PDF+DOC1990年第06期 《传感器优化配置的修正逐步累积法》PDF+DOC2003年第03期 刘娟,黄维平 《钨酸铁的超声合成及表征》PDF+DOC2011年第01期 张晓,胡孔诚 《基于超声红外电子白板系统设计》PDF+DOC2010年第26期 袁铭,肖慧荣,张君,曾淑雯 《超声在线含沙量量测技术在“模型黄河”工程中的应用研究》PDF+DOC2006年第05期 冷元宝,王锐,黄建通,马新克,焦桂珍
  • 为了在相控阵超声成像检测时实现缺陷的定性分析,采用部分散射系数矩阵表征传感器采集到的部分散射场信息,并利用部分散射系数矩阵图进行缺陷识别。以相控阵超声全阵列采集获取到的全矩阵数据为基础,结合声波传播过程的衰减性,采用逆向补偿的方法将全矩阵数据补偿到以缺陷为中心的同一圆周上,以此获取缺陷的部分散射信息,并采用部分散射系数矩阵来表征。通过分析缺陷的部分散射系数矩阵图特征,对缺陷进行定性分析和判别。采用此方法对两种典型的缺陷进行仿真实验,结果显示,部分散射系数矩阵图不仅对圆孔和裂纹两类不同缺陷表现出差异性,对同类型不同尺寸和不同角度的裂纹也有明显的不同之处,表明利用该方法可实现缺陷的定性识别。

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