作者:周进节,郑阳,张宗健,谭继东 单位:中国仪器仪表学会 出版:《仪器仪表学报》2017年第02期 页数:8页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFYQXB2017020240 DOC编号:DOCYQXB2017020249 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
《基于部分散射系数矩阵的缺陷识别方法研究》PDF+DOC2017年第04期 周进节,郑阳,张宗健,谭继东 《相控阵超声水浸C扫描自动检测系统的研制》PDF+DOC2017年第12期 周正干,李文涛,李洋,高翌飞 《基于超声波虚拟相控阵列的气体泄漏成像方法》PDF+DOC2019年第05期 李磊,刘庆辉,杨宽,田勇志,张斌,牧凯军 《先进的超声手动扫描成象检测技术》PDF+DOC1997年第06期 刘松平,陈积懋,郭恩明 《基于几种超声压电晶片阵列的金属板缺陷成像》PDF+DOC2013年第03期 袁魁,沈希忠 《数据融合技术在棒材缺陷超声识别中的应用》PDF+DOC2006年第01期 刘继忠,周晓军,蒋志峰 《宽带超声衰减成像的研究》PDF+DOC2013年第03期 蒋时霖,于成龙,郑驰超,彭虎 《原型水位观测新方法的研究》PDF+DOC1996年第06期 舒乃秋,靳希,毛慧和,徐登华 《采用高分子压电材料的触觉传感器》PDF+DOC1992年第03期 徐善明 《考虑交互作用的ECT传感器的分析和优化》PDF+DOC2003年第02期 邵富群,高彦丽,章勇高,杨景辉
  • 相控阵超声全聚焦成像充分利用了检测信号,具有成像精度高、可进行缺陷识别等特点,是未来最具应用前景的相控阵成像算法之一。然而,目前相控阵超声全聚焦成像仍不能实现缺陷的高分辨率成像,无法对缺陷进行准确的定性、定量分析。为此,采用有限元仿真相控阵传感器的全阵列采集(FMC)过程,在全矩阵数据的基础上设计全聚焦成像程序,对圆孔和裂纹两种典型缺陷进行TFM成像,研究典型缺陷的TFM成像规律,从缺陷散射的角度分析影响相控阵超声全聚焦成像的因素。结果表明,实际检测中相控阵超声传感器只能接收到缺陷的部分散射信息,而相控阵超声在缺陷处的散射场分布与缺陷的类型、尺寸、角度及入射波类型、入射角度等因素有关,因此能否接收到缺陷散射的主要能量是影响全聚焦成像精度的关键。

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