《小像素CIS中PD隔离对白色像素影响的研究》PDF+DOC
作者:孙昌,王骞,李晓玉
单位:上海市电子学会;上海市通信学会
出版:《》
页数:3页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFDZJS2020020020
DOC编号:DOCDZJS2020020029
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基于CMOS工艺的互补金属氧化物半导体图像传感器(CIS)逐渐取代CCD成为市场主流,广泛应用于移动设备、医疗、汽车、安防等领域。其中,白色像素是表征CIS性能的重要指标,表征了一定像素数中输出异常亮度的像素个数。为研究如何降低白色像素,通过改变注入源种的实验,研究光电二极管(PD)之间的隔离,并经过推导计算,得到了小尺寸像素下对白色像素起到主要贡献的因素,并以此提出改善的方向。
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