作者:俞阿龙 单位:中国仪器仪表学会;上海工业自动化仪表研究院 出版:《自动化仪表》2001年第07期 页数:4页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFZDYB2001070080 DOC编号:DOCZDYB2001070089 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 介绍一种以MCS - 5 1单片机为核心 ,利用霍尔集成电路、集成函数运算放大器、V/F转换器等构成的镀层厚度测试仪。文末给出了性能测试结果。该测厚仪适用于导磁工件上镀(涂 )有非导磁材料的镀 (涂 )层厚度的测量。

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