作者:李为民,俞巧云,裘凌红 单位:沈阳仪表科学研究院有限公司 出版:《仪表技术与传感器》2001年第01期 页数:2页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFYBJS2001010120 DOC编号:DOCYBJS2001010129 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
《投影法测径系统的信号处理方法》PDF+DOC2001年第01期 李为民,任立忠,邢晓正,胡红专,翟超,李静 《CCD高精度线径测量仪》PDF+DOC1996年第01期 吴建兵,李川奇 《高精度CCD尺寸自动检测系统的光学系统设计》PDF+DOC1995年第01期 孙学珠,付维乔,刘庆,王庆有 《智能型覆铜板测厚系统》PDF+DOC1999年第02期 许军,李根乾 《高精度CCD尺寸自动检测系统的光学系统设计》PDF+DOC1995年第05期 孙学珠,付维乔,刘庆,王庆有 《面阵CCD在双轴自准直仪中的应用》PDF+DOC2008年第S1期 甘俊红,邹九贵,季国定 《采用CCD的非接触测量中提高精度的一种方法》PDF+DOC2002年第03期 李佳列,丁国清,颜国正,朱洪海 《利用线阵CCD非接触测量材料变形量的方法》PDF+DOC2002年第04期 王庆有,于涓汇,郭青,张盛彬 《CCD位移传感器结构参量计算方法》PDF+DOC2001年第02期 马荣贵,宋宏勋 《彩色线阵CCD用于物体尺寸精密测量的研究》PDF+DOC2001年第11期 张盛彬,王庆有,郭青
  • 文中介绍以线阵CCD作为光电传感器的投影放大法线径测量系统 ,着重分析提高系统稳定性和测量精度的方法。系统以半导体激光器为光源 ,成像系统采用物方远心光路。对阴影图像进行一阶微分并求其局部重心点作为其边缘特征点。对光学系统放大倍数和成像系统像差分别进行线性、非线性标定以提高测量精度

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