作者:华剑萍,贺德洪,桂力敏 单位:航天科技集团公司九院七七一所 出版:《微电子学与计算机》1990年第10期 页数:5页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFWXYJ1990100000 DOC编号:DOCWXYJ1990100009 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 本文介绍了采用直流表面电导技术非破坏性地测量密封管壳内水汽含量的方法、原理及其测量结果,并介绍了采用该技术对工厂密封器件的水汽含量所进行的评估。

    提示:百度云已更名为百度网盘(百度盘),天翼云盘、微盘下载地址……暂未提供。