《一种可长期维持低露点测试室的方法及其应用》PDF+DOC
作者:姬洪,金懋昌,曹佩韦,张池军
单位:中国航空工业集团公司;北京长城计量测试技术研究所
出版:《计测技术》2006年第S1期
页数:3页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFHKJC2006S10140
DOC编号:DOCHKJC2006S10149
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研究了用5A型分子筛长期维持低露点测试室装置的原理,以及用作传感器的长期稳定度测试的方法与结果。
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