作者:姬洪,金懋昌,曹佩韦,张池军 单位:中国航空工业集团公司;北京长城计量测试技术研究所 出版:《计测技术》2006年第S1期 页数:3页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFHKJC2006S10140 DOC编号:DOCHKJC2006S10149 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 研究了用5A型分子筛长期维持低露点测试室装置的原理,以及用作传感器的长期稳定度测试的方法与结果。

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