《机内测试系统虚警问题的数学模型分析》PDF+DOC
作者:杨光,邱静,温熙森,刘冠军
单位:西南交通大学
出版:《西南交通大学学报》2003年第05期
页数:3页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFXNJT2003050230
DOC编号:DOCXNJT2003050239
下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
《人体热释电信息形成原理的研究》PDF+DOC2018年第09期 熊迹,严俊伟,陈军桥
《复杂设备BIT系统几种典型虚警的数学分析》PDF+DOC2001年第12期 徐永成,温熙森,易晓山
《采用神经网络技术降低机电设备BIT虚警》PDF+DOC1999年第04期 徐永成,陶利民,温熙森,易晓山
《随钻测斜系统的数学模型分析及应用》PDF+DOC1996年第02期 刘匡晓
《用于材质识别的热觉传感器》PDF+DOC1990年第03期 高国伟,王自成,张毅
《基于异常识别和关联分析的桥梁数据复合诊断》PDF+DOC2012年第03期 梁栋,张宇峰,袁慎芳,吴键
《基于贝叶斯信息融合的解析余度辅助机内测试决策》PDF+DOC2012年第10期 池程芝,章卫国,刘小雄
《传感层反馈型机内测试系统模型分析和验证》PDF+DOC2007年第03期 刘冠军,杨光,邱静,吴晓艳
《基于降低复杂矿冶装备BIT虚警的PHM技术》PDF+DOC2013年第11期 伍建军,吴事浪,游雄雄
《一种基于双传感器的双向报警主动安全防撞系统的设计》PDF+DOC2013年第04期 贠迪,常青,刘时雨,邹园园,龙伟
根据虚警产生的机理及机内测试(BIT)系统信息处理流程对虚警率建模.基于Bayes概率分析构建了传统BIT系统虚警率的分析模型.为降低虚警率,提出嵌入数据异常检测和恢复功能的BIT系统改进模型,并证明了该模型的有效性.对影响FAR的因素进行了系统分析.分析表明,影响虚警率的主要特性参数有诊断层的虚警率以及传感层的漏警率和故障率。
提示:百度云已更名为百度网盘(百度盘),天翼云盘、微盘下载地址……暂未提供。