作者:周浩敏,胡芳,兰巍,邢维巍 单位:北京强度环境研究所 出版:《强度与环境》2002年第01期 页数:6页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFQDHJ2002010080 DOC编号:DOCQDHJ2002010089 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
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  • 主要论述硅谐振微传感器中微现象测量。讨论了微现象测量中有关的技术 :激励功率控制 ,超声频谐振频率的测量 ,频率特性的测定 ,品质因数的确定 ,克服电热效应的不良影响 ,同频干扰的抑制等。

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