作者:吴正辉,金丰,银恺 单位:上海交通大学 出版:《机械设计与研究》2013年第03期 页数:5页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFJSYY2013030310 DOC编号:DOCJSYY2013030319 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
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  • 针对航空电子产品高可靠性和可测试性要求,以某型起落架转弯操纵系统为对象,采用余度设计和机内测试(BIT,built-in-test)技术,开发了一款起落架转弯双余度控制器。该控制器基于三CPU冗余架构,采用相似余度、冷备份的双余度方案以及基于AT89S51单片机的BIT方案,实现工作电路板的故障检测、监控、诊断和隔离。通过基于硬件的故障注入技术对该控制器BIT功能验证,结果表明该控制器BIT检测模块能够检测到电路板故障,显示故障信息,并自动完成系统重构。同时,在软件方面采用数字滤波技术,进一步提高了BIT的可靠性,降低了虚警率,达到了预期的初步设计目标。

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