《低阻尼MEMS加速度传感器频率特性快捷测试法》PDF+DOC
作者:张旭辉,徐爱东,卞玉民
单位:中国电子科技集团公司第十三研究所
出版:《微纳电子技术》2015年第02期
页数:5页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFBDTQ2015020090
DOC编号:DOCBDTQ2015020099
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提出了一种适合低阻尼MEMS压阻加速度传感器频率特性的测试方法,可较为快捷地获得传感器谐振频率和阻尼比等频率特性。首先介绍了该方法的理论依据和计算方法,然后介绍了典型测试系统构成和测试结果,并将该方法的测试结果与传统扫频测试方法的测试结果进行了对比,本方法所测得的传感器谐振频率和阻尼比分别为26.58 kHz和0.015,扫频测试方法所测得的传感器谐振频率和阻尼比分别为26.66 kHz和0.005。结果显示,该方法所得结果具有较好的精度,并具有操作简单、快速、重复性好及系统搭建成本低等优点。该方法已应用于汽车碰撞用MEMS压阻加速度传感器的生产,作为检测和筛选的测试手段。
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