作者：吴永亮,陈国光,孟召丽 单位：北京无线电技术研究所 出版：《电子测量技术》2009年第12期 页数：4页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFDZCL2009120150 DOC编号：DOCDZCL2009120159 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
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    • 通过提高硅压力传感器的高温环境应力，研究制定了其加速寿命试验的设计方案，进行了步进应力加速寿命试验。利用线性回归方法完成了试验数据的统计和分析，应用威布尔分布函数描述其寿命分布并完成了常温应力下的寿命预测。研究结果表明，试验设计方案是正确可行的，硅压力传感器的寿命服从威布尔分布，其加速模型符合阿伦尼斯方程，加速参数的精确计算确保以后在很短的时间内便可估算出在正常应力下的寿命。

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