作者:郑然,赵瑞光,刘超,胡永才 单位:中国科学院上海应用物理研究所 出版:《辐射研究与辐射工艺学报》2018年第02期 页数:8页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFFYFG2018020090 DOC编号:DOCFYFG2018020099 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
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  • 研究了辐射环境下CMOS有源像素传感器产生的暗信号随机电报噪声(RTS)的特性,针对这一噪声提出一种实时自动检测算法,用以检测、重建暗信号RTS,并提取噪声关键参数。采用~(60)Cog射线进行的辐照实验测试结果表明,对于辐照后被观测像素发生的282次多级RTS转换,基于本文提出的实时阈值检测方法成功检测出了257次,检测效率达到91%,比采用暗信号幅值标准差为阈值的检测方法高出了16%。

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