作者：孙权,姚素英,郑炜 单位：天津理工大学 出版：《光电子·激光》2013年第01期 页数：7页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFGDZJ2013010060 DOC编号：DOCGDZJ2013010069 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
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    • 为了减弱暗电流对互补型金属氧化物半导体(CMOS)图像传感器(简称CIS)图像质量的影响，本文基于图像处理的方式提出了一种实时校正CMOS图像传感器暗电流的方法，并在一个最高帧频(50f/s)的4晶体管像素结构CMOS图像传感器内集成了该方法的电路。测试结果表明，该方法获得了准确的暗电平，并且实时消除了75%以上暗电流引入的固定模式噪声(FPN，fixed pat-tern noise)，大大改善了图像质量。

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