作者:李玉玲,王明伟,张林超,吴佐飞 单位:中国电子科技集团公司第四十九研究所 出版:《传感器与微系统》2018年第11期 页数:3页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFCGQJ2018110050 DOC编号:DOCCGQJ2018110059 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
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  • 绝缘体上硅(SOI)压力传感器通常采用阳极键合实现圆片级气密封装,硅片和硼硅玻璃片通过阳极键合技术在360℃左右形成可靠的结合。硅片和硼硅玻璃片的热膨胀系数不能完全匹配,降温后的硅—玻璃圆片必然会存在残余应力。残余应力直接影响传感器性能、稳定性和可靠性。建立了残余应力计算模型,分析了残余应力与硼硅玻璃片厚度的关系;完成了键合试验,通过测量圆片曲率半径得到了弯曲应力的量值,验证了通过调整玻璃片厚度实现应力匹配的方法。样品测试结果表明:通过应力匹配减小了工艺残余应力,有效提高了压力传感器的长期稳定性。

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