作者:李鑫,梁庭,赵丹,雷程,杨娇燕,李志强,王文涛,熊继军 单位:中国电子科技集团公司第十三研究所 出版:《微纳电子技术》2018年第06期 页数:7页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFBDTQ2018060050 DOC编号:DOCBDTQ2018060059 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
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  • 设计并制备了一种基于绝缘体上硅(SOI)材料、量程为5 Pa~1.8 MPa的压阻式压力传感器。在设计方面,通过有限元分析软件和经典理论相结合分析敏感膜片的力学性能和电学性能,得到敏感膜片的尺寸和表面电势的分布;在工艺方面,设计了基于标准微电子机械系统(MEMS)工艺的制作流程;在芯片的封装方面,为保证敏感芯片与外界的电气互连,采用了引线键合工艺,同时装配温度补偿电路和信号调理电路降低了传感器的温漂,保证传感器的输出。制备后的压力传感器在温度压力复合平台进行标定和温度测试,结果显示传感器在设计量程范围内具有较好的精度并且可在-50~205℃内稳定工作。

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