作者:陈德英,茅盘松,张旭,王强 单位:南京电子器件研究所(中电科技集团公司第55所) 出版:《固体电子学研究与进展》2004年第03期 页数:5页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFGTDZ2004030090 DOC编号:DOCGTDZ2004030099 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 讨论了硅的压阻效应 ,利用简化的力学模型设计了高 g值压阻加速度传感器的结构参数、工艺流程和版图 ,并制备出样品 ,测试结果表明本传感器加速度可大于 80 0 0 g。

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