《基于几种超声压电晶片阵列的金属板缺陷成像》PDF+DOC
作者:袁魁,沈希忠
单位:中国机械工程学会;上海材料研究所
出版:《无损检测》2013年第03期
页数:4页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFWSJC2013030020
DOC编号:DOCWSJC2013030029
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结合椭圆定位方法,分别采用了线型、十字型和时钟型超声压电晶片阵列对金属薄板中缺陷进行成像识别。根据Lamb波在薄板中的传播分析,选取激励信号及其参数,构建超声信号检测模型。依据椭圆轨迹原理进行成像,判断薄板中有无缺陷存在。通过压电陶瓷晶片加载脉冲激励信号,分别对三种情况进行数据处理并成像。结果证明十字型和时钟型阵列能有效地对缺陷成像,并避免了成像过程中的虚像。
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