作者:盛卫东,林两魁,安玮,周一宇 单位:中国科学院电子学研究所;国家自然科学基金委员会信息科学部 出版:《电子与信息学报》2010年第07期 页数:5页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFDZYX2010070200 DOC编号:DOCDZYX2010070209 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 多目标轨迹关联问题是天基光学跟踪系统的核心和难点之一。传统的分布式轨迹关联方法基于目标的3维轨迹信息,不适用于被动传感器的2维轨迹关联问题。为此,该文以倾角差为统计检验量,建立轨迹统计检验模型,提出基于全局最优思想的轨迹关联算法,并用密集多目标场景进行算法的蒙特卡罗仿真。结果表明,该轨迹关联算法性能优良,可以有效完成密集目标环境下的被动多传感器多目标轨迹关联任务。

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