作者:徐淑霞,王彤,胡竞,马文龙,常伟 单位:沈阳仪表科学研究院有限公司 出版:《仪表技术与传感器》2009年第S1期 页数:2页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFYBJS2009S10230 DOC编号:DOCYBJS2009S10239 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
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  • OEM硅压阻压力传感器是采用半导体平面工艺和微机械加工工艺及传感器专用封装工艺制造的。因此不合格传感器的失效原因是很复杂的。在长期从事传感器质量检验过程中,归纳出不合格的主要原因是零点输出发生变化。文中尝试从半导体工艺原理和制造工艺方面对不合格品的失效原因进行分析,并提出相应的改进方法。

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