作者:肖沛宏,付兴铭,谭六喜,姚媛 单位:北京信息科技大学 出版:《传感器世界》2007年第03期 页数:3页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFCGSJ2007030020 DOC编号:DOCCGSJ2007030029 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
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  • 本文对一种汽车用MEMS压力传感器中的键合金线,在加速振动试验时的疲劳情况进行了研究。首先简单介绍了MEMS压力敏感芯片引线键合以及引线的基本情况,然后利用有限元方法对引线在20g的加速振动下的疲劳和寿命进行了分析,并利用了概率上的冗余理论对键合工艺提出了改进,最后给出了实际的结果,证实了模拟和改进工艺的合理性。

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