作者:邱天,丁艳军,吴占松 单位:中国电子科技集团公司第四十九研究所 出版:《传感器与微系统》2006年第10期 页数:3页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFCGQJ2006100270 DOC编号:DOCCGQJ2006100279 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 在基于主元分析的传感器故障检测方法中,Hawk insT2H指标对部分传感器故障的检测优于常用的SPE指标。但目前对T2H指标的研究并不充分,尚需要对T2H指标进行故障重构能力的分析。利用几何投影的概念,研究了T2H指标的传感器故障重构问题,并得出了该指标的故障可重构条件。应用数据仿真实验验证了T2H指标的传感器故障重构计算方法的有效性。

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