作者：徐辉,汪海,孙侠 单位：中国电子科技集团公司第十三研究所 出版：《半导体技术》2019年第03期 页数：7页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFBDTJ2019030100 DOC编号：DOCBDTJ2019030109 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑

    • 针对负偏置温度不稳定性引起的组合逻辑电路老化，提出了一款消除浮空点并自锁存的老化预测传感器。该传感器不仅可以预测组合逻辑电路老化，而且能够通过传感器内部的反馈来锁存检测结果，同时解决稳定性校验器在锁存期间的浮空点问题，其延时单元为可控型延时单元，可以控制其工作状态。使用HSPICE软件进行仿真，验证了老化预测传感器的可行性，可以适用于多种环境中且不会影响传感器性能。与同类型结构相比，该传感器的稳定性校验器能够对检测结果进行自锁存，使用的晶体管数量减少了约8%，平均功耗降低了约20%。

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