作者：徐辉,鲁孝平,李丹青 单位：中国电子科技集团公司第十三研究所 出版：《半导体技术》2018年第05期 页数：7页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFBDTJ2018050100 DOC编号：DOCBDTJ2018050109 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑

    • 为了降低电路老化对数字集成电路性能的影响，提出了一种通过对比输入信号与其反向延迟信号对电路老化进行预测的传感器结构。提出的传感器结构预测部分可对组合逻辑电路进行数据失效前的老化预测，当检测到电路已发生老化致数据失效时，容错部分可对错误信号进行矫正。该结构特殊的设计减小了面积开销和功耗。采用HSPICE软件对传感器功能进行模拟仿真，实验结果验证了传感器可在不同环境下正确地预测电路的老化情况，并对已发生错误的信号进行矫正，与其他功能相同的传感器相比，该传感器的面积及功耗分别降低了30.91%和41.3%。

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