作者:郭玉刚,吴佐飞,田雷 单位:中国电子科技集团公司第四十九研究所 出版:《传感器与微系统》2019年第03期 页数:3页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFCGQJ2019030070 DOC编号:DOCCGQJ2019030079 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
《论硅的各向异性腐蚀》PDF+DOC1987年第01期 吴宪平,鲍敏杭 《压力传感器中的各向异性腐蚀技术》PDF+DOC2005年第06期 张为,姚素英,张生才,张维新 《Metropolis蒙特卡罗模拟湿法腐蚀算法研究及应用》PDF+DOC2008年第01期 朱鹏,幸研,易红,汤文成 《基于牺牲层技术的高过载压力传感器芯片》PDF+DOC2014年第12期 揣荣岩,王健,代全,杨理践 《各向异性腐蚀技术研究与分析》PDF+DOC2001年第02期 沈桂芬,吴春瑜,姚朋军,杨学昌,刘兴辉,吕品,高嵩 《传感器的微机械加工中各向异性腐蚀过程的计算机模拟》PDF+DOC2000年第01期 孙以材,高振斌 《微型双岛硅膜制作中的削角补偿方法研究》PDF+DOC1996年第06期 吴紫峰,田雷,温鹏宇 《高量程压力传感器的硅杯设计》PDF+DOC1986年第05期 张九惠,罗永春 《集成化触觉阵列传感器的研制》PDF+DOC2001年第02期 田雷,孙凤玲,寇文兵 《SOI高温压力传感器的研究》PDF+DOC2006年第04期 张书玉,张维连,索开南,牛新环,张生才,姚素英
  • 针对单晶硅(100)晶面在氢氧化钾(KOH)腐蚀液中各向异性腐蚀时的削角问题,进行了一项凸角补偿实验。通过不同尺寸与形状组合的〈110〉条形补偿结构,对长方形凸台进行补偿,最终获取具有期望效果的补偿结构。该方法应用于压力传感器芯片的过载保护结构设计。

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