作者:王玉田,赵世强,王遂,隋红丽 单位:中国微米纳米技术学会;东南大学 出版:《传感技术学报》2003年第01期 页数:3页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFCGJS2003010010 DOC编号:DOCCGJS2003010019 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
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  • 介绍了一种分析获取干涉图的新方法 ,可使得计算机处理简单 ,我们可以利用此结论很容易地测量出薄膜的厚度

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